利用包含ZAF基体修正的电子探针,介绍 X 射线显微分析的理论.
互联网摘选
A ZAF Correction for Quantitative Electron-probe Microanalysis of Microparticles
电子探针分析微粒样品的校正方法
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本文比较了用此法和Russ法(利用计算得到的纯元素标识X光强度因子并且经ZAF修正分析成分)得到的结果,表明用我们的方法分析的结果有所改善,计算程序也更简单。
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利用包含ZAF基体修正的电子探针,介绍 X 射线显微分析的理论.
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A ZAF Correction for Quantitative Electron-probe Microanalysis of Microparticles
电子探针分析微粒样品的校正方法
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本文比较了用此法和Russ法(利用计算得到的纯元素标识X光强度因子并且经ZAF修正分析成分)得到的结果,表明用我们的方法分析的结果有所改善,计算程序也更简单。
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