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对半导体制造业来说,内建可靠性方法由两大部分组成: 圆片级可靠性系统和内建可靠性数据库.
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The Wafer Level Reliability ( WLR) system for advanced integrated circuit manufacturing
先进集成电路制造的圆片级可靠性系统
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活动性组骶髂关节WLR高于对照组及非活动性组，差异有高度统计学意义，对照组与非活动性组之间WLR相接近，差异无统计学意义。
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因此，这种测试方法越来越得到广泛的应用，本文讨论WLR测试的几个方面以及提供一些测试算法。
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结合您在灵气和其他形式的补充医学上的研究，从您的角度，你是否能看到一些方法科学地把它们组合在一起呢？
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习惯成天然，DRDO无法依照承诺生产出武器定位雷达，印度陆军最终还是于2003年从先前的供给商那里购置了这一系统。
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