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本文基于半无穷不可微最优化方法的框架和模型，提出了求解电路成品率极大的中心值设计，容差设计，调整设计及电路制造费用极小化为一体的统计最优化（DCTT）的求解方法及其策略。
互联网摘选
本文基于半无穷不可微最优化方法的框架和模型，提出了求解电路成品率极大的中心值设计，容差设计，调整设计及电路制造费用极小化为一体的统计最优化（DCTT）的求解方法及其策略。
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