而退火后磁电阻值则明显增加,是未退火时的1。74倍;
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XRD结构分析显示,退火后薄膜样品的峰值强度大于未退火样品的强度,说明样品结晶度增强。
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实验结果表明:退火后样品的薄膜电阻率显著减小,是未退火样品薄膜电阻率的3.17分之一;
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陨石样品经均匀地升温退火,退火温度达600℃以上其诱发TL峰温比未经退火的峰温要高。
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测量了四种典型镍镀层的采透火和退火试样的正电子湮没寿命谱。
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结果表明:Fe2O3/SnO2膜表面,晶格氧的结合能为529.85eV,热处理前有大量吸附氧存在,在600℃退火后,大部分羟基、羰基形态的吸附氧解吸;
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以单向拉伸试验数据为基础,采用拉格朗日多项式插值法构造了未退火和已退火差厚板的应力应变场,解决了数值仿真过程中差厚板的材料参数问题。
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